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      红外线测温仪

      红外线测温仪

      简要描述:

      DT-882H红外线测温仪可用于测量那些不适合使用传统接触式测量方法来测量物体的表面温度(例如:移动物体,带电表面和难以接触到的物体等。)

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      DT-882H红外线测温仪可用于测量那些不适合使用传统接触式测量方法来测量物体的表面温度(例如:移动物体,带电表面和难以接触到的物体等。)


      DT-882H红外线测温仪特性:

      1.非接触式精 测量
      2.内置激光瞄准器
      3.自动选择量程
      4.℃/℉ 转换按键
      5.自动数值保持及自动关机
      6.红外线测温距离与物体目标比(D:S=10:1)
      7.带背光源LCD显示屏

      DT-882H技术指标:

       DT-880DT-880HDT-882DT-882HDT-883DT-883H
      红外测温量程-50~380℃-50~500℃-50~550℃-50~700℃-50~700℃-50~850℃
      距离比(D:S)12:0110:01
      发射率固定0.95
      基本精度±2%
      响应时间<1秒
      分辨率0.1℃
      激光类型单激光
      尺寸160*82*42 mm
      重量177 g


      红外系统:红外测温仪由光学系统、光电探测器、信号放大器及信号处理、显示输出等部分组成。光学系统汇聚其视场内的目标红外辐射能量,视场的大小由测温仪的光学零件及其位置确定。红外能量聚焦在光电探测器上并转变为相应的电信号。该信号经过放大器和信号处理电路,并按照仪器内疗的算法和目标发射率校正后转变为被测目标的温度值。

      红外系统:红外测温仪由光学系统、光电探测器、信号放大器及信号处理、显示输出等部分组成。光学系统汇聚其视场内的目标红外辐射能量,视场的大小由测温仪的光学零件及其位置确定。红外能量聚焦在光电探测器上并转变为相应的电信号。该信号经过放大器和信号处理电路,并按照仪器内疗的算法和目标发射率校正后转变为被测目标的温度值。


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